光栅光谱

级次重叠

由光栅方程d（sina+sinb）可知，波长为λ的一级（m=1）光谱线，波长λ/2的二级（m=2）光谱线、波长为λ/3的三级（m=3）光谱线……都具有同样的衍射角。即βλ，1=bλ/2，2=bλ/3，平面光栅价格，3=bλ/4，……m-1=bλ/m，这就是衍射光栅光谱的级次重叠。即衍射光栅在同一位置有不同级次的不同波长的光谱线。在宽波段范围内进行高分辨率光谱研究或光谱分析工作时，光栅光谱的级次重叠是非常明显的，必须采取有力的措施，把不需要的波段隔离掉或滤掉；例如，采用前置单色器、采用相应波段的滤光片等。才能避免不需要级次光谱的干扰，才能保证紫外可见分光光度计的分辨率和分析测试数据的准确性和可靠性。

多色仪平场凹面光栅

平场凹面光栅被设计成光谱会聚在一个平面之上，使他成为线性或2D阵列探测器的理想之选。

这些光栅的刻线既不等间距也不平行， 而是经计算机优化，反射光栅价格，使入射狭缝在探测器平面上形成良好的图像。

由于光学数值孔径大以及经像差校正，这些平场凹面光栅具有比传统的罗兰圆凹面光栅更好的光收集效率和信号噪声比。

采用面探测器（例如一个二维的电荷耦合元件）时，时常可能是多个光源排列在入射狭缝上，并要求在面探测器上各自独立地形成每个光源的光谱（这种光谱仪称为图像光谱仪）。这些“图像光栅”几乎不受像散影响，光栅价格，因而构成图像光谱仪只需要一个固定的光学元件。

插图描绘了一个“校正光栅”将两个独立的光源成像在各自独立的线性阵列之上。光谱1是一“样品光谱”来自狭缝1而光谱2是一参考光谱来自狭缝2。这些“狭缝”可以是光纤输入设备。

影响凹面光栅分辨率检测的因素

影响凹面光栅分辨率检测的因素要检测一块凹面光栅的分辨率，必须构建符合此光栅使用条件的检测系统，而检测系统的光源、狭缝和探测器以及其放置位置的精度不可避免地影响光栅检测结果。因此为了得到真正的凹面光栅分辩率必须对这些影响因素加以科学的分析，并在检测数据里，合理地加以去除。

凹面光栅的分辨率是指以点或线单色光源入射时，在像面上按照瑞利准则可分辨的Zuii小光谱范围。在实际检测中没有这种光源，总是带有一定的尺寸大小和光谱带宽，因此应考虑它们对分辨率的影响。检测系统的光源采用标准mercury lamp，检测波段为200~1000nm。mercury lamp出光用光纤耦合，光栅，用聚光透镜将光斑聚焦在狭缝中心上，以近似点光源发散球面波入射到凹面光栅表面。

必须注意的是入射光经光栅衍射的特征谱线事实上有一定的带宽；狭缝上的聚焦光点也有一定的尺寸大小；经过狭缝的入射球面波必须充满整个光栅表面，才能正确检测出光栅的光谱分辨本领。

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